Applications Practical Aspects, and Case Studies
การสัมมนาฯ ภายใต้โครงการถ่ายทอดเทคโนโลยีจากต่างประเทศเพื่อเพิ่มขีดความสามารถในการแข่งขันให้แก่ภาคอุตสาหกรรม
26 – 28 September 2016
Meeting Room CC405 Convention Center (CC), Thailand Science Park , Pathum Thani
The characterization techniques will include X-ray diffraction (XRD), X-ray fluorescence (XRF), scanning electron microscopy (SEM), and transmission electron microscopy (TEM). This is a continuation (the second part) of the workshop offered at MTEC and NANOTEC.