Workshop on

Applications Practical Aspects, and Case Studies

 of Materials Characterization 

การสัมมนาฯ ภายใต้โครงการถ่ายทอดเทคโนโลยีจากต่างประเทศเพื่อเพิ่มขีดความสามารถในการแข่งขันให้แก่ภาคอุตสาหกรรม

26 – 28 September 2016

Meeting Room CC405 Convention Center (CC), Thailand Science Park , Pathum Thani

 

The characterization techniques will include X-ray diffraction (XRD), X-ray fluorescence (XRF), scanning electron microscopy (SEM), and transmission electron microscopy (TEM). This is a continuation (the second part) of the workshop offered at MTEC and NANOTEC.

 

28 ส.ค. 2559